Tektronix vs. Keysight at PCIM: Two Ways to Look Inside a SiC MOSFET
Two booths at PCIM. Two oscilloscope giants. Both measuring SiC MOSFETs — but asking entirely different questions. This is what the Tektronix/Keithley vs. Keysight split reveals about where SiC technology...
WeiterlesenSiC MOSFET Power Characterization at PCIM: Why Static and Dynamic Are Two Different Worlds
Two stations. Two measurement worlds. Tektronix and Keithley showed at PCIM why static DC characterization and dynamic switching power testing are not the same thing — and why SiC MOSFET...
WeiterlesenIntelligentes Schalten in SiC: Wie der Gate-Treiber EG120 von Bosch Oszilloskop-Feedback zur Synchronisierung von Leistungsbauelementen nutzt
Diese praktische Demo von Bosch zeigt, wie adaptive Gate-Stromformung und Echtzeit-Oszilloskop-Feedback eine der größten Herausforderungen bei der parallelen SiC-MOSFET-Schaltung lösen können.
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